项目基本信息
售后服务要求
踏勘需求
采购产品需求清单
序号 | 商品分类 | 产品名称 | 参考品牌 | 参考型号 | 计量单位 | 采购数量 | 是否允许进口商品报价 | 现货要求 | 原装正品要求 | 技术指标 |
1 | 光谱遥感仪器 | 高光谱成像分析系统 | / | spectrascan | 个 | 1 | 否 | 是 | 是 | 1、用途:本系统采用PTS(Plant-To-Sensor)样品自动传送技术,集成了样品传送、高光谱成像扫描等国际先进成像分析技术,样品通过传送平台自动传送至高光谱成像单元,实现无损伤反射光成像分析,广泛应用于样品冠层/根系表型分析。★2.1.1 主控系统:嵌入式操作系统,全中文触控显示屏,集移动扫描、控制及温湿度、光照度显示等于一体,方便系统调试、运行等PC端全中文用户界面软件2.1.2 通信方式:采用星型组网物联网技术,可任意扩展增加传感器和控制模块如光源、秤重、激光测距模块,兼容5G通讯技术,可实现远程控制等功能#2.1.3 传感器:内置温湿度、光照度、时钟(时钟可根据电脑信息自动校准),可扩展2.1.4 成像距离:0-200mm2.1.5 平台移动速度:1-30mm/s,可调2.1.6 有效扫描面积:≥300×300mm2.1.7 平台移动精度:反复运行20万次,误差控制在5mm以内★2.1.8 一体式全中文界面软件:集平台移动控制、高光谱参数设置、数据采集、校准等流程于一体,可设置白板、暗参考、样品采集起始点、结束点位置,一键启动,平台自动移动并同步自动数据采集,内置算法模型,自动执行归一化反射率校准及暗噪声剔除校准2.1.9 光源:全太阳光谱线性光源对称入射,角度、高度可调2.1.10 系统自动保护功能,发生短路、过载、欠压时自动紧急断电,避免设备损坏2.2可见光近红外高光谱成像:2.2.1 传感器类型:400-1000nm线性推扫成像,CMOS探测器,狭缝宽度≥42μm,出厂全光谱校准,集成电机械快门和顺序阻塞过滤器2.2.2光谱采样间隔≤1.35nm★2.2.3 光谱波段:≥440,具备多光谱成像功能,可根据需求自由选择感兴趣波段,最大称度减少数据冗余,提高光谱成像大数据处理分析效率,节省存储空间,可分段选择波段范围#2.2.4 F值:≤1.7★2.2.5 像素分辨率:≥0.1mm@15cm2.2.6 满井容量:≥90000e-2.2.7 数据格式:Mono12#2.2.8 帧率:≥300FPS(满帧),有效适配更大范围的扫描速度,适应多种测量场景,尤其对容易摆动的样品,能够得到锐利清晰的高光谱影像#2.2.9可成像分析作物生化、生理指标、光利用效率、健康指数、覆盖度、胁迫等近百种参数,如:可自动分析计算NDVI、NDVI705红边归一化植被指数(对衰老敏感)、VOG1红边指数(对叶绿素浓度、物候变化等敏感)、PRI光化学植被指数、PSRI 植被衰减指数(用于指示冠层胁迫、植物衰老、果实成熟等)、SIPI结构不敏感色素指数(反映冠层胁迫程度、生理胁迫检测等)、CRI1 类胡萝卜素反射指数、ARI1/ ARI2 花青素反射指数、CI 叶绿素指数(红边指数)、WBIR水波段指数(反映水分含量分布)、HI健康指数等植物色素指数和胁迫敏感指数、NPQI归一化脱镁指数(用于早期胁迫检测)、PSSRa(R800/R680)指数等2.3 高光谱数据分析软件:★2.3.1 可进行多模式图像显示、波段融合、感兴趣区分析、光谱指数分析、光谱曲线绘制、光谱特征统计、直方图统计、结果图/表导出等;#2.3.2 图像显示:三波段伪彩色显示、单波段灰度显示及伪彩色演示、旋转显示、支持5种调色板可视化表达#2.3.3 ROI分析:同时具备①通过阈值+参数+斑块滤除进行背景掩膜自动选区,②自定义点、线、矩形、圆形、多边形等手动选区功能★2.3.4 可成像测量分析作物生化、生理指标、光利用效率、健康指数、覆盖度、胁迫等指标,内置ARI1、ARI2、ARVI、CAI、CCCI、Ctr1、Ctr2、CRI1、CRI2、CustomVI1、DVI、EVI、FRI、GARI、GCI、GDVI、GI、GM1、GM2、GNDVI、HI、LCI、LSI、mBRI、mNDVI705、mSR705、MCARI、MCARI1、MCARI2、MTCI、NPQI、NDLI、NDRE、NDVI、NDVI705、NPCI、OSAVI、PPR、PRI、PSNDa、PSNDb、PSRI、PSSRa、PSSRb、REP、RVSI、SIPI、SR、SRPI、TCARI、TVI、VARI、VIgreen、VOG1、VOG2、VOG3、WBI、ZMI等50多种VI模型参数,一键分析输出csv结果及导出图片,具备两种计算方式★2.3.5 光谱分析:自动拾取任意像素点光谱曲线,自动根据ROI绘制平均光谱曲线,并自动识别统计波峰波长,具备加权、5点均值、SG滤波等平滑算法,具备一阶、二阶导数运算功能,见微知著#2.3.6 形态分析:可分析长宽比、像素面积、校准面积、Circularity、Aspect ratio、Solidity、Roundness等参数★2.3.7 剖面分析:最多可画分40段横切线,用于研究ROI不同横向位置的差异,可根据交叉点的统计数据,精确分析根系的分叉、不同深度处根冠的宽度等,统计数据一键导出csv,可在Excel等工具中查看分析2.4 扫描台架2.4.1 扫描台架尺寸:长宽高≤1000mm*10 |
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